課程說明:
本課程探討並量測材料的基本物理性質,其中包括講解分析儀器相關原理以及 量測標準樣品並
引導學
生思考相關領域的議題。實驗內容主要包括有:
1. 表面形貌分析: α-step(膜厚測量儀), AFM(原子力顯微鏡)
2. 光學特性: PL螢光光譜儀, UV-Vis光譜儀 / FTIR(傅立葉轉換光譜儀)。
3. 電性: I-V電流-電壓測量
4. 磁性: Hall effect霍爾效應
5. 電子顯微鏡: SEM(掃描式電子顯微鏡), TEM(穿透式電子顯微鏡)
教學方式:
1. 以分組方式進行10週實驗操作(每組3~4人)。
2. 實驗講解以投影片方式進行。
成績考核: 出席率以及課堂表現 15 %+實驗報告 50 %+期末考 35 %
參考書籍:
1. L. Solymar and D. Walsh, “Electrical Properties of materials, 7th edition”,
Oxford (2004) 2. Mark Fox, “Optical Properties of Solids”, Oxford (2001)
3. G. S. Nolas, J. Sharp and H. J. Goldsmid, “Thermoelectrics- Basic Principles
and New Materials Developments”
4. Goldstein, Joseph, electron microscopy and x-ray microanalysis, Kluwer
Academic/Plenum Publishers (2003); Reimer, Ludwig, “Scanning electron microscopy
: physics of image formation and microanalysisBerlin”, Springer (1998)
5. Ozaki, Y. (Yukihiro),“Modern Fourier transform infrared spectroscopy”,
Elsevier (2001)