課程說明:
<br>本課程探討並量測材料的基本物理性質,其中包括講解分析儀器相關原理以及 量測標準樣品並
<br>引導學
<br>生思考相關領域的議題。實驗內容主要包括有:
<br>1. 表面形貌分析: α-step(膜厚測量儀), AFM(原子力顯微鏡)
<br>2. 光學特性: PL螢光光譜儀, UV-Vis光譜儀 / FTIR(傅立葉轉換光譜儀)。
<br>3. 電性: I-V電流-電壓測量
<br>4. 磁性: Hall effect霍爾效應
<br>5. 電子顯微鏡: SEM(掃描式電子顯微鏡), TEM(穿透式電子顯微鏡)
<br>教學方式:
<br>1. 以分組方式進行10週實驗操作(每組3~4人)。
<br>2. 實驗講解以投影片方式進行。
<br>成績考核: 出席率以及課堂表現 15 %+實驗報告 50 %+期末考 35 %
<br>參考書籍:
<br>1. L. Solymar and D. Walsh, “Electrical Properties of materials, 7th edition”,
<br>Oxford (2004) 2. Mark Fox, “Optical Properties of Solids”, Oxford (2001)
<br>3. G. S. Nolas, J. Sharp and H. J. Goldsmid, “Thermoelectrics- Basic Principles
<br>and New Materials Developments”
<br>4. Goldstein, Joseph, electron microscopy and x-ray microanalysis, Kluwer
<br>Academic/Plenum Publishers (2003); Reimer, Ludwig, “Scanning electron microscopy
<br>: physics of image formation and microanalysisBerlin”, Springer (1998)
<br>5. Ozaki, Y. (Yukihiro),“Modern Fourier transform infrared spectroscopy”,
<br>Elsevier (2001)
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